光电联用:光学显微镜和电子显微镜数据关联分析



光学显微镜: JOMESA HFD

  • 滤膜/颗粒捕集载物片的快速扫描

  • 分析颗粒尺寸和位置

  • 分为金属、非金属和纤维

  • 用户可以标记颗粒以进行快速SEM-EDX分析

  • 将结果存储到数据库中

扫描电子显微镜和能谱仪: JOMESA PSE

  • 从数据库中读取颗粒信息

  • 选中颗粒的快速SEM-EDX分析

  • 可选分析方式:全扫描或部分光学颗粒扫描

  • 将结果存储到数据库



JOMESA PSE屏幕:显示光镜电镜





选择EDX分析区域






SEM-EDXLIBS
带有LIBS选项的光学显微镜只能分析光学方法识别的颗粒(可见光下能见颗粒)
SEM
分析能够增加光学数据中看不到的颗粒信息(可见光下未探测到的颗粒)

SEM图像看起来与光学图像大不相同,可以显示很多信息





光学图像

SEM图像






有时光学方法无法识别关键颗粒(玻璃、研磨材料)





光学图像(玻璃纤维)

SEM图像(玻璃纤维)




光镜(HFD)与电镜 (SEM)两种方法识别颗粒计数不能进行比较
这两种检测原理“看到”的颗粒是不同


材料

光学检测

SEM检测

有机 (纤维)

石墨

氧化铝

非常好

玻璃

不能识别

非常好

盐类

非常好